科聯(lián)電子提供多路溫度測(cè)試儀、積分球、爐溫跟蹤儀、變頻電源等產(chǎn)品。
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2018-07-25 來源：科聯(lián)電子
積分球作為一種光學(xué)儀器，近一百年來被廣泛應(yīng)用于光度測(cè)量和輻射測(cè)量中。在許多應(yīng)用中，積分球通常被用作測(cè)試CCD或CMOS等焦面陣列光電器件的均勻輻射光源。然而，由于積分球?qū)嶋H的制造安裝、內(nèi)部擋屏的幾何位置、漫反射涂層的實(shí)際厚度和內(nèi)部光源的幾何位置等因素的影響，造成實(shí)際的積分球輻射光源開口處的照度均勻性并不理想。
另一方面，在航空和天文等領(lǐng)域中使用的科學(xué)級(jí)別CCD經(jīng)常需要在較低的溫度下工作。如果在積分球上進(jìn)行器件測(cè)試，積分球內(nèi)部光源的熱量對(duì)器件的影響就不能忽略。因此，按照理想情況下在積分球光源出口處對(duì)光電器件進(jìn)行測(cè)試是不合適的。
